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X光管是波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)最核心的部件之一,影響光管性能的主要參數(shù)有功率、電壓、電流、鈹窗膜厚度、陽(yáng)極靶材、陰極燈絲等,其性能很大程度影響了儀器的最終性能。在高壓下,電子從燈絲表面逸出,并在電場(chǎng)作用下打到陽(yáng)極靶材上,激發(fā)出初級(jí)X射線。在這個(gè)過(guò)程中,電子動(dòng)能...
分光系統(tǒng)是波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的重要部件,它由分光晶體及傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、限高光欄、準(zhǔn)直鏡和衰減器等器件組成。其中主要的器件是晶體分光器,它的作用是通過(guò)晶體衍射把不同波長(zhǎng)的X射線分開。一、分光晶體分光晶體是晶體分光系統(tǒng)的核心部件,為了獲得較好的分析效果,晶體的選擇是十分重要的。分光晶體相當(dāng)于光學(xué)光譜儀中棱鏡和光柵,X射線區(qū)域之所以不能使用棱鏡或光柵作為的分光單元,是因?yàn)閄射線的波長(zhǎng)短、能量大、穿透力強(qiáng)、幾乎不發(fā)生折射。晶體分光的原理是根據(jù)布拉格衍射定律2dsinθ=mλ,當(dāng)波長(zhǎng)...
電鍍鍍層膜厚分析儀是X射線聚光系統(tǒng)與X射線源相結(jié)合,產(chǎn)生束斑高強(qiáng)度的X射線束。所以可以對(duì)以往由于X射線照射強(qiáng)度不足而導(dǎo)致無(wú)法得到理想精度的導(dǎo)線架、接插頭、柔性線路板等微小零件及薄膜進(jìn)行測(cè)量。同時(shí),采用了高計(jì)數(shù)率、高分辨率的半導(dǎo)體檢測(cè)器(無(wú)需液氮),在測(cè)量鍍膜厚度的同時(shí),對(duì)于限制的有害元素的分析測(cè)量也十分有效。電鍍鍍層膜厚分析儀產(chǎn)品的優(yōu)勢(shì)表現(xiàn):1.鍍層檢測(cè),至多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層,精度及穩(wěn)定性高。2.平臺(tái)尺寸:樣品移動(dòng)距離可大。3.激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。4.可檢測(cè)固體、粉末...
為了使被測(cè)物質(zhì)產(chǎn)生特征熒光X射線(X光熒光),需要用能量較高的光子源來(lái)激發(fā)。光子源有X射線、低能量的γ射線以及高能量的加速電子或離子。對(duì)于一般的X射線熒光光譜儀,常用的激發(fā)方法有如下幾種:一、用放射性同位素源激發(fā)源激發(fā)是將少量的放射性同位素,如55Fe(鐵)、109Cd(鎘)等物質(zhì)固封在密封的留有小孔的鉛罐中,連續(xù)發(fā)射出低能γ射線,經(jīng)準(zhǔn)直后照射到被測(cè)物質(zhì)上產(chǎn)生X熒光。同位素源發(fā)出的X射線強(qiáng)度是非常穩(wěn)定的,但是X射線強(qiáng)度小,能力分布不可調(diào)。優(yōu)點(diǎn):?jiǎn)紊院?、信噪比高、體積小、重量...
一、X射線熒光光譜定量分析中的不確定度來(lái)源在X射線熒光光譜定量分析中,導(dǎo)致分析結(jié)果具有一定不確定度的因素很多。多數(shù)情況下,很難直接計(jì)算出每一種因素所引起的不確定度分量。但在實(shí)際分析過(guò)程中,所有不確定度分量中,往往其中的某個(gè)或者某幾個(gè)分量就決定了合成不確定度的大小,因此,對(duì)于這幾個(gè)不確定度分量必須仔細(xì)分析其來(lái)源,并正確估計(jì)其對(duì)合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的貢獻(xiàn)。在X射線熒光光譜定量分析過(guò)程中,每一個(gè)步驟都有可能引起不確定度的因素,主要有以下幾個(gè)方面:1)取樣取樣必需具有代表性。2)樣品處理...
水泥生產(chǎn)中生料和熟料是常規(guī)的監(jiān)測(cè)對(duì)象,對(duì)于生料我們都知道,熒光對(duì)它的分析是沒(méi)有問(wèn)題的,但是對(duì)于熟料來(lái)說(shuō),結(jié)果往往就不那么盡如人意了。經(jīng)過(guò)多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),現(xiàn)總結(jié)出一套非常有效的方法,先推廣給大家,希望對(duì)廣大的客戶有所幫助。首先將恒溫室溫度穩(wěn)定在37度。其次先用12~15個(gè)樣做一條熟料的曲線,在日后的生產(chǎn)過(guò)程當(dāng)中,每天添加一塊有化學(xué)分析結(jié)果的生產(chǎn)樣品,我們的曲線中多可以添加累計(jì)100個(gè)點(diǎn),在長(zhǎng)期的積累中可以找到不合適的點(diǎn)并把它去除。在保證儀器各項(xiàng)參數(shù)穩(wěn)定的條件下如果出現(xiàn)明顯偏離的...