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X光管是波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)最核心的部件之一,影響光管性能的主要參數(shù)有功率、電壓、電流、鈹窗膜厚度、陽極靶材、陰極燈絲等,其性能很大程度影響了儀器的最終性能。在高壓下,電子從燈絲表面逸出,并在電場作用下打到陽極靶材上,激發(fā)出初級X射線。在這個過程中,電子動能...
土壤重金屬污染的影響是非常大的,不僅會對農(nóng)作物的產(chǎn)量和質(zhì)量造成一定的影響,還會對人類的生活環(huán)境造成一定的影響,同時也嚴重的影響著人體的健康。因此,對土壤重金屬含量的檢測十分重要。土壤重金屬檢測儀可對土壤、肥料、作物、蔬菜、水果、水質(zhì)、食品等樣品中的砷、鉛、鎘、鉻、汞、鐵、鋁、鋅、錳、銅等進行快速聯(lián)合測定。EXPLORER9000手持式土壤重金屬光譜儀是使用全新大屏高分辨率液晶顯示屏及新型數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的檢測儀器,可對土壤污染物進行原位測試與修復(fù)分析,可對污染土壤中的汞、鎘...
膜厚分析儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:1、磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高2、渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低3、超聲波測厚法:目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,個別有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。4、電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層。一般精度也不高,測量起來較其他幾種麻煩。膜厚分析儀的性...
RoHS環(huán)保測試儀是用晶體分光而后由探測器接收經(jīng)過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和探測器作同步運動,不斷地改變衍射角,便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度??梢該?jù)此進行定性分析和定量分析。RoHS環(huán)保測試儀的軟件設(shè)計和硬件配置性能特點:1、軟件設(shè)計(1)提供開放式工作曲線標定功能,可為用戶量身定做佳的有害物質(zhì)檢測方法和控制方案;(2)采用特殊元素二次強度提取算法,提高了微量元素的檢出限;(3)軟件集成了同一模式多個判斷功能;(4)軟件開機自...
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:nλ=2dsinaθ(n=1,2,3…)式中,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特征信息。使用ROHS檢測儀需要注意的事項有:1、表面與外殼的清潔。儀器可用...
鍍層測試儀采用電磁感應(yīng)法測量涂(鍍)層的厚度時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。鍍層測試儀的產(chǎn)品優(yōu)勢:1、操作簡單,只需要很少的培訓(xùn)就可以操作;2、檢測速度快,無損檢測只需...