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全面升級XU-100鍍層測厚儀高精尖檢測技術，搞定企業(yè)品質管控！XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm²，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。應用行業(yè)：電鍍層分析緊固

全面升級XD-1000全自動智能X熒光光譜測厚儀XD-1000上照式光譜測厚儀，XD-1000鍍層測厚儀對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件，如線路?板、引線支架、衛(wèi)浴產品等。搭載四焦技術，人機交互全面優(yōu)化，操作更加方便快捷。

毛細管聚焦X熒光鍍層測厚儀、連接器測厚儀 此系列產品可測量金屬準直無法測量的微區(qū)，多導毛細聚焦管光學元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以測量微電子設備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區(qū)域。 可以測量納米級的鍍層，毛細聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上，可以敏感的反應鍍層納米級厚度變化。其焦斑小區(qū)域上的X射線強度比金屬準直系統高出幾個數量級。 可以實現更高的測試精度

XTU系列五金電鍍測厚儀測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動.

X射線熒光膜厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動.

柔性線路板X射線膜厚儀 XTU系列測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm